產(chǎn)品跌落測(cè)試是一種用于評(píng)估產(chǎn)品在意外跌落情況下的性能和可靠性的測(cè)試方法。本文將從產(chǎn)品跌落測(cè)試的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)類(lèi)型、跌落高度、跌落表面類(lèi)型、測(cè)試結(jié)果評(píng)估進(jìn)行解析。

1.  試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

跌落測(cè)試遵循嚴(yán)格的國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，以確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可靠性：

IEC 60068-2-32：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分的試驗(yàn)方法，規(guī)定了自由跌落試驗(yàn)的相關(guān)要求，是國(guó)際上廣泛認(rèn)可的電子產(chǎn)品跌落試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)之一。

ISO 2248：主要針對(duì)包裝運(yùn)輸包裝件的垂直沖擊跌落試驗(yàn)，對(duì)于評(píng)估電子產(chǎn)品包裝在流通過(guò)程中的抗沖擊性能具有重要意義。

GB/T 4857.5-2016：《包裝物理性能試驗(yàn) 跌落試驗(yàn)方法》是中國(guó)關(guān)于包裝跌落試驗(yàn)的重要標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了試驗(yàn)的方法、設(shè)備要求、試驗(yàn)步驟等，適用于中國(guó)地區(qū)的電子產(chǎn)品包裝跌落測(cè)試。

GB/T 2423.8-1995：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ed：自由跌落》，為電子產(chǎn)品的自由跌落試驗(yàn)提供了具體的試驗(yàn)方法和要求。

  2、試驗(yàn)類(lèi)型

3.  跌落高度

跌落高度反映了測(cè)試的嚴(yán)格程度。在沒(méi)有特定使用條件或規(guī)范的情況下，跌落高度的選擇應(yīng)考慮試驗(yàn)樣品的質(zhì)量。

標(biāo)準(zhǔn)ISO 4180:2019包裝與包裝；完整、完整的運(yùn)輸包裝——性能試驗(yàn)計(jì)劃編制的一般規(guī)則-6測(cè)試方法-6.5跌落測(cè)試-6.5.2自由落體試驗(yàn)(適用人工搬運(yùn))給出了跌落高度與包裝產(chǎn)品質(zhì)量的參考。

等級(jí)1：轉(zhuǎn)運(yùn)的數(shù)量很高，有可能產(chǎn)生非常大的力。

等級(jí)2：轉(zhuǎn)運(yùn)的數(shù)量較多，可能有較大的力量。

等級(jí)3：轉(zhuǎn)運(yùn)次數(shù)和外力水平被認(rèn)為是一般的。

等級(jí)4：轉(zhuǎn)運(yùn)的數(shù)量少，不存在大外力的可能性。

4.  測(cè)試結(jié)果評(píng)估

產(chǎn)品跌落測(cè)試完成后，需要對(duì)樣品進(jìn)行以下檢查評(píng)估：

外觀檢查：觀察產(chǎn)品表面是否有損壞，如掉漆、劃痕、凹陷、破裂等。

內(nèi)部檢查：檢查樣品內(nèi)部的器件、模塊、接插件、開(kāi)關(guān)、PCB等是否有脫離、破裂、震斷現(xiàn)象。

功能檢查：檢查產(chǎn)品的各項(xiàng)功能是否完好。對(duì)于電子設(shè)備，要檢查其開(kāi)機(jī)是否正常、信號(hào)傳輸是否穩(wěn)定、軟件運(yùn)行是否出現(xiàn)錯(cuò)誤等。